https://m.vkvideo.ru/video-216427956_456239075
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
❤5🔥3🤩3🙏1💘1😘1
15–16 сентября на базе НИУ МИЭТ в Зеленограде состоялась Школа молодых ученых «Рентгеновская оптика — 2026». Мероприятие объединило студентов, аспирантов и молодых ученых, интересующихся современными направлениями рентгеновской оптики и технологиями микро- и наноструктур. Площадку для проведения Школы и необходимую инфраструктуру для лекционной и практической программы предоставила «Активная Фотоника».
Более 30 участников посетили лекции очно, еще несколько десятков слушателей подключились к онлайн-трансляции. Перед участниками выступили ведущие специалисты из НИУ МИЭТ, МГУ им. М. В. Ломоносова, Курчатовского института, СПбГЭТУ «ЛЭТИ», Новосибирского государственного университета и МФТИ.
Программа Школы охватила широкий спектр вопросов — от истории и современных задач рентгеновской фокусирующей оптики до перспектив развития источников рентгеновского излучения и применения технологий в исследованиях микро- и наноструктур.
Например, Евгений Максимов из МГУ рассказал о динамике белковой матрицы и молекулярных механизмах, Николай Потрахов из СПбГЭТУ «ЛЭТИ» представил источники рентгеновского излучения для исследовательских и технологических задач, а Николай Дюжев из НИУ МИЭТ рассказал о возможностях высокоразрешающей рентгеновской литографии с использованием линз Френеля.
🔬 Особое место в программе заняла практическая часть. Участники познакомились с методами атомно-силовой микроскопии, освоили подготовку образцов, выбор режимов сканирования, проведение исследований и анализ полученных результатов. Кроме того, молодые ученые смогли самостоятельно сформировать модели киноформных линз с использованием методов силовой нанолитографии.
💡 Школа стала площадкой не только для знакомства с современными научными направлениями, но и для практического погружения в технологии. Участники получили возможность напрямую общаться с ведущими специалистами и своими руками работать с современными методами исследования и нанолитографии.
🎓 Занятия Школы молодых ученых состоялись в рамках мегагранта Российского научного фонда «Разработка технологии изготовления составных киноформных линз для рентгеновской оптики нанометрового разрешения с использованием устройства прецизионного позиционирования»*.
🫶 Спасибо организаторам, лекторам и всем участникам за два насыщенных дня, новые знания и возможность обсудить современные технологии рентгеновской оптики!
* Шифр проекта: 26-72-32002
Сроки реализации: 01.06.2026 – 31.12.2030
Тема проекта: Разработка технологии изготовления составных киноформных линз для рентгеновской оптики нанометрового разрешения с использованием устройства прецизионного позиционирования
Руководитель проекта: к.ф.-м.н., в.н.с., Козодаев Дмитрий Александрович
Ссылка на проект: https://rscf.ru/project/26-72-32002/
Please open Telegram to view this post
VIEW IN TELEGRAM
🔥10❤7🎉5👍2
🔬 Встречаемся на форуме «Микроэлектроника - 2026»!
С 27 сентября по 3 октября ждём вас в Университете «Сириус» на стендах «Активной Фотоники» №90 и №103.
В этом году представим две новые разработки, которые впервые анонсируем на выставке:
🔹 Установка измерения стресса uFLEX 300 — полуавтоматическая система для прецизионного измерения механических напряжений в тонких плёнках на полупроводниковых пластинах диаметром до 300 мм.
🔹 Новая версия uSTEP 300 с автоматизированной настройкой — комплекс для микроскопического анализа пластин до Ø300 мм с системой высокоточного XY(Θ)-позиционирования.
Что ещё покажем?
🔬 LS RamBo 620 (ППРФ 719 ППРФ 878) — конфокальный рамановский и фотолюминесцентный 3D-сканирующий микроспектрометр.
🔬 uVISION 300 — автоматическую инспекционную установку в видимом и УФ-свете с аппаратным автофокусом для выявления, квалификации и классификации дефектов с использованием ИИ.
🔬 Ntegra Prima — универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии.
Также на стенде №95 «ПЛАНАР» будет представлена полуавтоматическая зондовая станция uPROBE 200.
💬 Не только выставка
«Активная Фотоника» также примет участие в научных секциях и круглых столах.
📅 30.09:
⏰ 15:00–15:20 | Секция 13
👤 Толкач Н. М. 💻 ОНЛАЙН
«Исследование методами спектроскопии кристаллического совершенства синтетических объёмных алмазов»
📅 30.09:
⏰ 15:40–16:00 | Секция 13
👤 Муратова Е. Н.
📊 «Индустриальная модель подготовки кадров для научного приборостроения: опыт интеграции вузовской науки, молодёжных лабораторий и высокотехнологичного производства»
📅 30.09:
⏰ 16:00–16:20 | Секция 13
👤 Новиков И. А. 💻 ОНЛАЙН
📊 «Источник внешнего магнитного поля и магнитооптический модуль для сканирующей зондовой микроскопии магнитных материалов»
📅 02.10:
⏰ 09:00–09:20 | Секция 9
👤 Трусов М. А.
📊 «Физико-математическое описание особенностей работы атомно-силового микроскопа применительно к решению задач метрологии и инспекции в микроэлектронной отрасли
📅 02.10:
⏰ 12:10–12:30 | Секция 13
👤 Толкач Н. М. 💻 ОНЛАЙН
📊 «Новое аналитическое оборудование для анализа энергонезависимых материалов с переменной фазовой структурой»
📅 02.10:
⏰ 12:30–12:50 | Секция 9
👤 Дроботов Дмитрий Дмитриевич
📊 «Метрологический суверенитет микроэлектроники: от лабораторных СЗМ к промышленному контролю на пластинах до 300 мм
📅 02.10:
⏰ 12:30–12:50 | Секция 13
👤 Кузнецов Е. В.
📊 «Методика и аппаратная часть для реализации 3D-CD измерений полупроводниковых структур для нужд современной микроэлектроники»
Приходите послушать доклады, обсудить актуальные задачи микроэлектроники и диагностики и лично пообщаться с нашими разработчиками и инженерами.
🎁 И, конечно, мы подготовили подарки для гостей стендов!
📅 27 сентября — 3 октября
📍 Университет «Сириус»
📌 Стенды «Активной Фотоники»: №90 и №103
Будем рады встретиться на «Микроэлектронике - 2026»!
С 27 сентября по 3 октября ждём вас в Университете «Сириус» на стендах «Активной Фотоники» №90 и №103.
В этом году представим две новые разработки, которые впервые анонсируем на выставке:
🔹 Установка измерения стресса uFLEX 300 — полуавтоматическая система для прецизионного измерения механических напряжений в тонких плёнках на полупроводниковых пластинах диаметром до 300 мм.
🔹 Новая версия uSTEP 300 с автоматизированной настройкой — комплекс для микроскопического анализа пластин до Ø300 мм с системой высокоточного XY(Θ)-позиционирования.
Что ещё покажем?
🔬 LS RamBo 620 (ППРФ 719 ППРФ 878) — конфокальный рамановский и фотолюминесцентный 3D-сканирующий микроспектрометр.
🔬 uVISION 300 — автоматическую инспекционную установку в видимом и УФ-свете с аппаратным автофокусом для выявления, квалификации и классификации дефектов с использованием ИИ.
🔬 Ntegra Prima — универсальный сканирующий зондовый микроскоп, реализующий более 40 методов атомно-силовой и туннельной микроскопии.
Также на стенде №95 «ПЛАНАР» будет представлена полуавтоматическая зондовая станция uPROBE 200.
💬 Не только выставка
«Активная Фотоника» также примет участие в научных секциях и круглых столах.
📅 30.09:
⏰ 15:00–15:20 | Секция 13
👤 Толкач Н. М. 💻 ОНЛАЙН
«Исследование методами спектроскопии кристаллического совершенства синтетических объёмных алмазов»
📅 30.09:
⏰ 15:40–16:00 | Секция 13
👤 Муратова Е. Н.
📊 «Индустриальная модель подготовки кадров для научного приборостроения: опыт интеграции вузовской науки, молодёжных лабораторий и высокотехнологичного производства»
📅 30.09:
⏰ 16:00–16:20 | Секция 13
👤 Новиков И. А. 💻 ОНЛАЙН
📊 «Источник внешнего магнитного поля и магнитооптический модуль для сканирующей зондовой микроскопии магнитных материалов»
📅 02.10:
⏰ 09:00–09:20 | Секция 9
👤 Трусов М. А.
📊 «Физико-математическое описание особенностей работы атомно-силового микроскопа применительно к решению задач метрологии и инспекции в микроэлектронной отрасли
📅 02.10:
⏰ 12:10–12:30 | Секция 13
👤 Толкач Н. М. 💻 ОНЛАЙН
📊 «Новое аналитическое оборудование для анализа энергонезависимых материалов с переменной фазовой структурой»
📅 02.10:
⏰ 12:30–12:50 | Секция 9
👤 Дроботов Дмитрий Дмитриевич
📊 «Метрологический суверенитет микроэлектроники: от лабораторных СЗМ к промышленному контролю на пластинах до 300 мм
📅 02.10:
⏰ 12:30–12:50 | Секция 13
👤 Кузнецов Е. В.
📊 «Методика и аппаратная часть для реализации 3D-CD измерений полупроводниковых структур для нужд современной микроэлектроники»
Приходите послушать доклады, обсудить актуальные задачи микроэлектроники и диагностики и лично пообщаться с нашими разработчиками и инженерами.
🎁 И, конечно, мы подготовили подарки для гостей стендов!
📅 27 сентября — 3 октября
📍 Университет «Сириус»
📌 Стенды «Активной Фотоники»: №90 и №103
Будем рады встретиться на «Микроэлектронике - 2026»!
🔥11❤9🎉2
🚀 Первые два дня на «Микроэлектронике-2026»: уже есть чем поделиться!
На форуме «Микроэлектроника-2026» завершились первые два дня работы - за это время успели провести множество встреч, обсудить актуальные вопросы с коллегами и партнёрами, познакомиться с новыми российскими разработками.
📌 В этом году форум собрал рекордное количество участников: более 1000 компаний и свыше 2500 специалистов. В программе - около 1200 докладов на 14 научных секциях, а на выставке представлены разработки, которые уже переходят от этапа опытных образцов к серийному производству.
Не случайно премьер-министр Михаил Мишустин призвал «тесно интегрировать работу ученых с компаниями, с реальным сектором производства». А правительство уже предусмотрело стимулы для консолидации усилий и ресурсов «для сбалансированного роста наших компетенций в этой наукоемкой сфере».
Для «Активной Фотоники» эти два дня тоже стали продуктивными. Наш стенд посетили представители научных и промышленных организаций, партнёры и коллеги по отрасли. Особое внимание гостей привлекли наши решения для диагностики и контроля параметров материалов и изделий микроэлектроники.
💡 Сегодня третий день форума - продолжаем работать!
Впереди выступления наших специалистов в научной программе, новые встречи и презентации. Следите за нашими новостями - будем делиться впечатлениями и самыми интересными моментами с «Микроэлектроники-2026»!
На форуме «Микроэлектроника-2026» завершились первые два дня работы - за это время успели провести множество встреч, обсудить актуальные вопросы с коллегами и партнёрами, познакомиться с новыми российскими разработками.
📌 В этом году форум собрал рекордное количество участников: более 1000 компаний и свыше 2500 специалистов. В программе - около 1200 докладов на 14 научных секциях, а на выставке представлены разработки, которые уже переходят от этапа опытных образцов к серийному производству.
Не случайно премьер-министр Михаил Мишустин призвал «тесно интегрировать работу ученых с компаниями, с реальным сектором производства». А правительство уже предусмотрело стимулы для консолидации усилий и ресурсов «для сбалансированного роста наших компетенций в этой наукоемкой сфере».
Для «Активной Фотоники» эти два дня тоже стали продуктивными. Наш стенд посетили представители научных и промышленных организаций, партнёры и коллеги по отрасли. Особое внимание гостей привлекли наши решения для диагностики и контроля параметров материалов и изделий микроэлектроники.
💡 Сегодня третий день форума - продолжаем работать!
Впереди выступления наших специалистов в научной программе, новые встречи и презентации. Следите за нашими новостями - будем делиться впечатлениями и самыми интересными моментами с «Микроэлектроники-2026»!
❤16🔥7👍6
⚡ «Активная Фотоника» и «ПЛАНАР» объединяют технологии для высокоточных измерений на пластинах
30 сентября на форуме «Микроэлектроника-2026» мы подписали соглашение о сотрудничестве с компанией «ПЛАНАР» (Челябинск). Вместе планируем создать автоматическую систему для определения электрических параметров полупроводниковых компонентов на кремниевой пластине.
🔺 Новый прибор сможет исследовать кристаллы до того, как они будут разрезаны и упакованы в корпуса. Это поможет решать критически важные задачи на этапах разработки и серийного производства микросхем, особенно в области радиочастотной, микроволновой и сверхвысокочастотной электроники.
🔺 Для создания высокоточного аппаратно-программного комплекса задействуют полуавтоматические зондовые станции, которые разрабатывает и производит «Активная Фотоника», и векторные анализаторы цепей, выпускаемые «ПЛАНАРОМ».
🔺 Зондовая станция сможет без вмешательства оператора перемещать пластины от чипа к чипу и автоматически подводить к ним микрозонд. Это в сотни раз сократит процесс тестирования пластины по сравнению с ручными измерениями. При этом векторные анализаторы цепей помогут микрозонду на наноуровне измерять емкостные свойства материала с точностью до цептофарад. Это даст возможность точно определять профили легирующих примесей, картировать плотность состояний, изучать локальный ферромагнитный резонанс, пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические свойства. При этом контакт зонда с материалом не требуется, а значит, нет риска повредить или разрушить полупроводниковую структуру.
Такой подход позволит проводить электрическое тестирование компонентов непосредственно после технологических процессов формирования электронных структур.
🤝 Мы рассчитываем, что объединение компетенций «Активной Фотоники» и «ПЛАНАРА» позволит создать отечественное решение для высокоточного контроля полупроводниковых структур и внесёт вклад в развитие современной микроэлектроники.
30 сентября на форуме «Микроэлектроника-2026» мы подписали соглашение о сотрудничестве с компанией «ПЛАНАР» (Челябинск). Вместе планируем создать автоматическую систему для определения электрических параметров полупроводниковых компонентов на кремниевой пластине.
🔺 Новый прибор сможет исследовать кристаллы до того, как они будут разрезаны и упакованы в корпуса. Это поможет решать критически важные задачи на этапах разработки и серийного производства микросхем, особенно в области радиочастотной, микроволновой и сверхвысокочастотной электроники.
🔺 Для создания высокоточного аппаратно-программного комплекса задействуют полуавтоматические зондовые станции, которые разрабатывает и производит «Активная Фотоника», и векторные анализаторы цепей, выпускаемые «ПЛАНАРОМ».
🔺 Зондовая станция сможет без вмешательства оператора перемещать пластины от чипа к чипу и автоматически подводить к ним микрозонд. Это в сотни раз сократит процесс тестирования пластины по сравнению с ручными измерениями. При этом векторные анализаторы цепей помогут микрозонду на наноуровне измерять емкостные свойства материала с точностью до цептофарад. Это даст возможность точно определять профили легирующих примесей, картировать плотность состояний, изучать локальный ферромагнитный резонанс, пьезоэлектрические и сегнетоэлектрические свойства. При этом контакт зонда с материалом не требуется, а значит, нет риска повредить или разрушить полупроводниковую структуру.
Такой подход позволит проводить электрическое тестирование компонентов непосредственно после технологических процессов формирования электронных структур.
🤝 Мы рассчитываем, что объединение компетенций «Активной Фотоники» и «ПЛАНАРА» позволит создать отечественное решение для высокоточного контроля полупроводниковых структур и внесёт вклад в развитие современной микроэлектроники.
🔥12❤8🎉3🍾3🤩1🤪1
Завершился российский форум «Микроэлектроника 2026»
Мероприятие традиционно стало одной из крупнейших площадок для обсуждения развития отечественной микроэлектроники.
🔹Для нашей команды форум стал возможностью представить собственные разработки и экспертные компетенции. Сегодня в рамках научной программы прозвучали сразу несколько наших докладов. В центре внимания - вопросы метрологического обеспечения микроэлектроники и контроля параметров полупроводниковых структур, современные методы 3D-CD измерений и другие.
🔹Предварительные итоги участия уже можно назвать содержательными: состоялись профессиональные обсуждения, соглашения о сотрудничестве, обмен опытом с представителями отрасли и новые контакты с потенциальными партнёрами. Форум также позволил оценить актуальные технологические направления и запросы рынка.
Сейчас подводим окончательные итоги участия. Совсем скоро расскажем подробнее о ключевых встречах, результатах и наиболее интересных событиях форума, а пока делимся яркими кадрами с мероприятия☺️
Мероприятие традиционно стало одной из крупнейших площадок для обсуждения развития отечественной микроэлектроники.
🔹Для нашей команды форум стал возможностью представить собственные разработки и экспертные компетенции. Сегодня в рамках научной программы прозвучали сразу несколько наших докладов. В центре внимания - вопросы метрологического обеспечения микроэлектроники и контроля параметров полупроводниковых структур, современные методы 3D-CD измерений и другие.
🔹Предварительные итоги участия уже можно назвать содержательными: состоялись профессиональные обсуждения, соглашения о сотрудничестве, обмен опытом с представителями отрасли и новые контакты с потенциальными партнёрами. Форум также позволил оценить актуальные технологические направления и запросы рынка.
Сейчас подводим окончательные итоги участия. Совсем скоро расскажем подробнее о ключевых встречах, результатах и наиболее интересных событиях форума, а пока делимся яркими кадрами с мероприятия☺️
🔥9❤8🍾4